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晶圆平面度检测

涉及工艺

3D视觉检测(晶圆平面度检测、瑕疵检测)


项目需求

1.检测晶圆半成品硅片、打磨后硅片、光刻后晶圆成品的平面度(精度可达μm级)


综合方案

检测软件:3D视觉检测软件

视觉硬件:高精度3D线激光/结构光相机


精度要求

3D检测精度可达μm级

  • 晶圆平面度检测-3D成像效果图
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  • 晶圆平面度检测-平面度多点/线对比
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