产品亮点
內建高精度演算法,精度可達亞微米等級
高幀率晶片,掃描速率可達19KHz
支援多種曝光模式,魯棒性更強
多幀演算法融合技術,輪廓更完整
多種濾波模式可選,資料更穩定
支援ROI選擇、一鍵調試,操作更便捷
参数规格:
型号  | BG-H820  | 
单轮廓点数  | 3200  | 
参考距离  | 21 mm  | 
Z轴测量范围  | 6 mm  | 
X轴测量范围  | 11.5 mm@近端 13.2 mm@参考距离 14 mm@远端  | 
Z轴分辨率  | 0.5 ~ 1.0 µm | 
Z轴重复精度*  | 0.15 µm@传感器在光学平台上测试标准量块的数据  | 
Z轴线性度(±%ofMR)  | 0.01  | 
轮廓数据间隔  | 8.8~11.6 μm  | 
扫描帧率  | 1.3KHz(最大测量范围下),最高可达19KHz(ROI模式下)  | 
数据输出类型  | 原始图、轮廓数据、深度图、亮度图  | 
触发模式  | 软触发、硬触发(差分编码器触发)  | 
激光波长  | 405 nm  | 
激光安全等级  | Class3R  | 
数据接口  | GigE  | 
数字I/O  | 12-pinM12接口提供供电和I/O,3路差分信号输入(Line0/3/6),1路差分信号输出(Line1),1路RS-232  | 
供电  | 12 ~ 24 VDC  | 
典型功耗  | 13 W@12 VDC  | 
| 外形尺寸 | 139 mm × 111 mm × 59.5 mm | 
重量  | 约1065g  | 
IP防护等级  | IP67  | 
温度  | 工作温度0~45°C,储藏温度-30~80°C  | 
湿度  | 20%~85%RH无凝结  | 
软件  | 3DMVS  | 
操作系统  | Windows 7/10/11 32/64bits(8G内存,i5处理器)  | 
*实验室环境下测试标准块,取限定范围内4096次测试数据的均值